产品简介：

X射线是一种波长很短(约为20～0.06埃)的电磁波，能穿透一定厚度的物质，并能使荧光物质发光、照相乳胶感光、气体电离。在用电子束轰击金属“靶”产生的X射线中,包含与靶中各种元素对应的具有特定波长的X射线，称为特征（或标识）X射线。XRD 即X-ray diffraction 的缩写，中文翻译是是X射线衍射，通过对材料进行X射线衍射，分析其衍射图谱，获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息。

X射线是原子内层电子在高速运动电子的轰击下跃迁而产生的光辐射，主要有连续X射线和特征X射线两种。晶体可被用作X光的光栅，这些很大数目的粒子（原子、离子或分子）所产生的相干散射将会发生光的干涉作用，从而使得散射的X射线的强度增强或减弱。由于大量粒子散射波的叠加，互相干涉而产生最大强度的光束称为X射线的衍射线。

满足衍射条件，可应用布拉格公式：2dsinθ=nλ。入射光束使每个散射体重新辐射其强度的一小部分作为球面波。 如果散射体与间隔d对称地排列，则这些球面波将仅在它们的路径长度差2dsinθ等于波长λ的整数倍的方向上同步。 在这种情况下，入射光束的一部分偏转角度2θ，会在衍射图案中产生反射点。

应用已知波长的X射线来测量θ角，从而计算出晶面间距d，这是用于X射线结构分析；另一个是应用已知d的晶体来测量θ角，从而计算出特征X射线的波长，进而可在已有资料查出试样中所含的元素。目前 X射线衍射(包括散射)已经成为研究晶体物质和某些非晶态物质微观结构的有效方法。物相分析是X射线衍射中用得最多的方面，分定性分析和定量分析。前者把对材料测得的点阵平面间距及衍射强度与标准物相的衍射数据相比较，确定材料中存在的物相；后者则根据衍射花样的强度，确定材料中各相的含量。在研究性能和各相含量的关系和检查材料的成分配比及随后的处理规程是否合理等方面都得到广泛应用。

主要参数：

应用领域：

物相鉴定功能，分析各结晶相的比例；结晶度分析，确定材料的结晶程度；快捷测试出点阵参数，为新材料开发应用提供性能验证指标；快捷测定微观应力；纳米材料由于颗粒细小,极易形成团粒,采用通常的粒度分析仪往往会给出错误的数据，采用X射线衍射线线宽法(谢乐法)可以测定纳米粒子的平均粒径。